Мікалай Міхайлавіч Аляхновіч (н. 02.05.1935, в. Варонічы, Слонімскага р-на, Гродзенскай вобл.), фізік. Акадэмік Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі (1996; чл.-кар. З 1989), доктар фізіка-матэматычных навук (1988), прафесар (1991). Заслужаны дзеяч навукі Рэспублікі Беларусь (1999).
Навуковыя даследаванні прысвечаны праблемам хімічнай сувязі ў цвёрдых целах, дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў у рэальных крышталях, атрымання новых матэрыялаў, у т.л. з выкарыстаннем высокіх ціскаў. Развіў метады эксперыментальнага вызначэння прасторавага размеркавання электроннага зараду і патэнцыялу ў крышталях і вызначэння па ім фізічных уласцівасцей, раскрыў кавалентна-іонны характар хімічнай сувязі ў важнай групе паўправадніковых крышталёў. Развіў рэнтгенаўскі дыфракцыйна-палярызацыйны аналіз рэальных крышталёў. Выявіў і даследаваў з’явы двупраменепраламлення і дэпалярызацыі рэнтгенаўскага выпраменьвання пры дыфракцыі ў дыслакацыйных крышталях, на аснове якіх развіў палярыметрыю рэнтгенаўскага дыяпазону частот. Прапанаваў спосабы монахраматызацыі рэнтгенаўскага сінхратроннага вымярэння з пераўтварэннем палярызацыі. На аснове эфектаў дынамічнага рассейвання рэнтгенаўскіх прамянёў для скажоных монакрышталёў з статыстычным размеркаваннем дэфектаў распрацаваў метады ідэнтыфікацыі тыпу дэфектаў, ацэнкі іх параметраў, а таксама спосабы прэцызійнага вызначэння структурных фактараў і характарыстык дынамікі крышталічнай рашоткі. Пабудаваў дыяграмы стану для аксідных сістэм, атрымаў і даследаваў шэраг новых метастабільных пераўскітных фаз сегнетаэлектрыкаў. Развіў падыход для апісання фазавых пераходаў у крышталях галоідных і аксідных злучэнняў са структурай тыпу пераўскіта на аснове ўліку напружанасці міжатамных сувязей і абумоўленага ёю многаямнага патэнцыялу.
Аўтар больш за 300 публікацый, у т.л. 14 вынаходстваў.
Узнагароджаны медалём.